高低溫試驗(yàn)箱滿足電子國標(biāo)的試驗(yàn)條件有哪些？

　　很多顧客在選購高低溫試驗(yàn)箱時(shí)只看到很多標(biāo)準(zhǔn)，卻不知道該標(biāo)準(zhǔn)是什么意思？包含的內(nèi)容是什么？小編將為你專業(yè)講解GB/T 2423.2-2008的國標(biāo)內(nèi)容，讓大家了解GB/T 2423.2-2008的國標(biāo)內(nèi)容是什么？不在盲目選購。

　　GB/T 2423.2是GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的2部分本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：——GB/T 2423.2-1981、GB/T 2423.2-1989、GB/T 2423.2-2001

　　本部分等同采用IEC 60068-2-2：2007《環(huán)境試驗(yàn) 2-2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)B：干熱》(英文版)。

　　本部分與IEC 60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯修改：

　　——刪除了1章1段中的“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品“;

　　——2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對(duì)GB/T 2423.22的引用;

　　——刪除了IEC 60068-2-2：2007前言;

　　——刪除了IEC 60068-2-2：2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容;

　　——4.3標(biāo)題"溫度突變與溫度漸變?cè)囼?yàn)應(yīng)用對(duì)比"改為“溫度漸變?cè)囼?yàn)";

　　——6.8.2標(biāo)準(zhǔn)“濕度"改為“濕度"。

　　——本部分的名稱改為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》;

　　——“本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為“本部分";

　　——增加了資料性附錄“GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)B：高溫的分類代號(hào)小寫字母之間的關(guān)系";

　　為清晰起見，上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。

　　本部分代替GB/T 2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》，與之相比主要變化如下：

　　——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;

　　——增加了試驗(yàn)Bc：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。

　　——刪除了試驗(yàn)Ba：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);

　　——刪除了試驗(yàn)Bc：散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);

　　本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。

　　本部分由電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)提出并歸口。